在显微镜下，样本并不总是易于观察，这时候，如果我们换一种观察方式，问题往往就能迎刃而解。以这款工业检测显微镜为例，我们一起来看一下：

一、落射明场观察

采用优秀的无线远光学系统，视场均匀，明亮，色彩还原度高，适合观察半导体等不透明样本。

二、暗场观察

可实现明亮的暗场观察，可以对细小划痕等缺陷进行高灵敏度的检测，适合对高要求的样本进行表面检测。

三、透射明场观察

对于透明的样本，如 FPD、光学元件等，可通过投射光聚光镜实现明场观察，同时也可搭配 DIC、简易偏光等附件使用。

四、简易偏光观察

此观察方法适合具有双折射性质的标本，如金相组织、矿物、LCD和半导体材料。

五、落射DIC观察

适合用于观察精密模具中的细小差异，该观察技术可以将普通观察中无法看到的细微高度差异，用浮雕和三维图像的形式表达出来。